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CMI900XRAY荧光镀层测厚仪 (2008-04-28)
产品价格: ３０００００
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应用 CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。行业用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业表面镀层厚度的测量。主要规格规格描述 X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准 75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选装备有安全防射线光闸二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选准直器程控交换系统最多可同时装配6种规格的准直器多种规格尺寸准直器任选：－圆形，如4、6、8、12、20 mil等－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，最小测量斑点尺寸为： 0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm准直器) 在12.7mm聚焦距离时，最大测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm准直器) 样品室－样品室结构开槽式样品室－最大样品台尺寸 610mm x 610mm －XY轴程控移动范围标准：152.4 x 177.8mm还有5种规格任选－Z轴程控移动高度 43.18mm －XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制－样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。（50倍和100倍观察系统任选。）激光自动对焦功能可变焦距控制功能和固定焦距控制功能样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围：Ti22 – U92。可同时测定5层/15种元素/共存元素校正贵金属检测，如Au karat评价材料和合金元素分析，材料鉴别和分类检测液体样品分析，如镀液中的金属元素含量多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析－调整和校正功能系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移－测量自动化功能鼠标激活测量模式：“Point and Shoot”多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式和重复测量模式，测量位置预览功能，激光对焦和自动对焦功能－样品台程控功能设定测量点，连续多点测量，测量位置预览－统计计算功能平均值、标准偏差、相对标准偏差、最大值、最小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图数据库存储功能－系统安全监测功能 Z轴保护传感器，样品室门开闭传感器 ●精度高、稳定性好 ●强大的数据统计、处理功能 ●测量范围宽 ●NIST认证的标准片 ●全球服务及支持
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